Memory bist测试方法.docx

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文件名称：Memory bist测试方法.docx
文件大小：807KB
文件格式：DOCX
更新时间：2020-09-02 09:04:47
Memorybist 以固定形式扫描存储器阵列 其中包括全写0或者全写1情况，最后一步为读取所有存储单元。测试次数与存储单元容量N成正比，关系为测试次数T=4N。这种算法可以测试SAF故障，还可为施加其他测试序列做好准备。