可测性设计(DFT)

【文件属性】：
文件名称：可测性设计(DFT)
文件大小：933KB
文件格式：RAR
更新时间：2014-03-27 15:42:44
DFT 测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。 测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。 测试与验证的区别：目的、方法和条件 测试的难点：复杂度和约束。 可测性设计：有利于测试的设计。

【文件预览】：
集成电路测试
----集成电路测试.ppt(1.02MB)
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